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    老化测试信号发生器

    用于AR显示模组产品高温/常温老化测试等应用场景,提供多路高精度电源及I3C/I2C、CLK_Out信号,长时间加载在模组上,加速暴露潜在的可靠性问题,是可靠性验证工具。可搭配自动化设备,也可应用于Offline产线,满足客户多种检测应用需求。

    老化测试信号发生器-封面图
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    提供多路高精度电源及MIPI、LVDS、QSPI等信号,用于VR显示模组产品Test等应用场景,既可搭配自动化设备,也可应用于Offline产线,满足测客户多种检测应用需求。

    显示检测信号发生器-封面图
联系方式:

0755-83188629-分机号8001

jzd@seichitech.com

公司地址:

深圳市南山区科技南十二路2号金蝶云大厦52楼

深圳市龙华区清宁路1号富安娜龙华工业园D栋1楼

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